fischer x射线镀层测厚仪

fischer x射线镀层测厚仪

fischer x射线镀层测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

Fischerscope X-ray XDL230有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器

菲希尔x射线测厚仪比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。

Fischer x射线测厚仪由于采用了FISCHER*基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

高精度涂层测厚仪、超声波测厚仪、涂层测厚仪、粗糙度、表面轮廓仪、圆度仪、圆柱度的仪器,淬火硬化层深度无损测量仪,组件清洁度测试系统、关节臂三坐标测量针探针,工业电子内窥镜,平面度测量仪、光谱仪、高度计、通用长度测量机,齿轮啮合仪,齿轮测量中心、超声波探伤仪、涡流探伤仪、硬度计、渗碳层厚度计、渗氮层深度无损检测仪、红外热成像仪、红外温度计、投影仪、视频测量仪、材料万能试验机、莫尼粘度计、振动计等精密测量仪器。

X射线荧光分析法 (XRFA)

能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中，这一方法都能更好胜任，并还可以与现代化设备一起发挥作用。