TAYLOR粗糙度仪Surtronic DUO

TAYLOR粗糙度仪Surtronic DUO

TAYLOR粗糙度仪Surtronic DUO

泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO可以测量的参数：

提供参数：ISO 4287粗糙度*

Rt – 峰谷值

Rp –最大波峰值

Rv – 最大波谷值

Rz – 平均峰谷值

Ra – 算术平均值

其它参数，包括：Rsk, Rku,Rq,Rz1max

* 包括主要参数

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪是英国泰勒公司 新型粗糙度仪,SURTRONIC DUO新型粗糙度仪可测 Ra , Rz 两种参数。 Surtronic DUO粗糙度仪具有红外接口可在距离被测物 1 米处进行测量。

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量,其设计可满足不同的技术与工作环境要求。

泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO快速测量 在仪器底端接触工件瞬间,即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

骏展仪器产品覆盖长度测量仪器,光学仪器,形状,工具,材料检测仪器、涂层和表面处理的测试仪器,已经为许多国内外大中型企业提供服务,优良的品质和完善的服务,赢得了客户的*,并建立了一个稳固的市场地位。公司主要从事物理表面检测仪器的销售和服务。拥有长期致力于行业的高科技人才和高效的管理团队，人才是公司立足的根本保证，也是公司未来发展的坚实基础，是公司更宝贵的财富。