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泰勒Surtronic Duo 表面粗糙度仪信息

更新时间:2026-01-06   点击次数:86次

‌Surtronic Duo 表面粗糙度仪:泰勒霍普森便携式测量解决方案‌

Surtronic Duo 是一款可快速测量表面粗糙度参数Ra的便携式仪器,测量结果直接显示于大型LCD显示屏,整个测量周期仅需5秒。此外,该设备还可同步测量Rz、Rp、Rv及Rt等参数,并支持英制与公制单位一键切换,无需重新测量即可完成单位转换。

‌核心特点‌

  1. ‌一键操作,高效测量‌
    仅需按下按钮,即可启动Ra参数测量,结果即时显示于LCD窗口,测量周期稳定在5秒内。历史数据自动保存,直至新测量覆盖。

  2. ‌多功能参数支持‌
    除Ra外,可扩展测量Rz(轮廓大高度)、Rp(轮廓峰高)、Rv(轮廓谷深)及Rt(轮廓总高度),满足多样化工况需求。

  3. ‌单位切换便捷‌
    支持英制与公制单位自由切换,无需重复测量,提升工作效率。

  4. ‌免安装设计,即开即用‌
    无需复杂安装或程序配置,按说明书操作即可快速上手。内置电池支持超长续航,单次充电可完成至少5000次测量。

  5. ‌便携式分体结构‌
    延续泰勒霍普森一贯的简约设计理念,机身轻巧便携,支持分体式操作。测量单元可独立放置于任意检测位置,适应狭小空间或复杂工件环境。

‌技术原理‌
Surtronic Duo 采用金刚石针尖触测技术,在驱动器控制下沿工件表面匀速扫描。针尖起伏运动触发压电传感器产生微电信号,经计算单元精密处理,转化为可读的粗糙度参数。该设计确保高精度测量同时兼顾设备耐用性。

‌设计优势‌

  • ‌简约美学‌:延续泰勒霍普森经典设计语言,机身线条流畅,操作界面直观。

  • ‌灵活部署‌:分体式结构支持手持或固定安装,适应生产线、实验室或现场检测场景。

  • ‌可靠性保障‌:电池寿命经严格测试,满足高强度使用需求。

‌泰勒霍普森粗糙度仪小型分体式DUO‌
Surtronic Duo 是泰勒霍普森为工业检测领域打造的产品,以技术创新与用户体验为核心,重新定义便携式粗糙度测量的标准。





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