菲希尔X射线测厚仪Fischer厂家XDL

菲希尔X射线测厚仪Fischer厂家XDL

菲希尔X射线测厚仪Fischer厂家XDL

德国FISCHER镀层测厚仪FISCHERSCOPE/XULM

德国FISCHER X射线荧光测试仪，可在微小样品上测量镀层厚度(包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等)和进行材料分析.

菲希尔X射线测厚仪功能特点：

◆菲希尔X射线测厚仪用途广泛的镀层厚度测量仪，包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等。

◆菲希尔X射线测厚仪通过组合可选的高压和滤片，可以对较薄的镀层（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和较厚的镀层进行同样效果的测量.

◆Fischer X射线测厚仪配有的微聚焦管，可以测量100 μm大小的微小测量点。

◆Fischer X射线测厚仪比例计数器可实现数千cps（每秒计数率）的高计数率。

◆Fischer X射线测厚仪从下至上的射线方向，从而可以快速简便的放置样品。

◆底部C型开槽的大容量测量舱  。

菲希尔X射线测厚仪典型应用领域：

◆测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层

◆电子行业中接插件和触点上的镀层

◆装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS

◆电镀镀层，如大规模生产零件（螺栓和螺母）上的防腐蚀保护层Zn/Fe，ZnNi/Fe

◆珠宝和钟表工业。

◆测量电镀液中金属成分含量，例如金层测厚、银层测厚。