Surtronic DUO|泰勒霍普森粗糙度仪

Surtronic DUO|泰勒霍普森粗糙度仪

Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度仪技术指标：     

量    程：200um    

行    程：5mm    

取样长度：0.8mm+/-15%    

参    数：Ra：0.1um-40um

     Rz：0.1um-199um     

精    度：Ra:0.1um

     Rz:0.1um    

检测方式：压电式    

尺    寸：125＊80＊38mm    

重    量：200g

Surtronic DUO|泰勒霍普森粗糙度仪

英国泰勒公司Surtronic ® Duo粗糙度仪是一种便携式表面粗糙度测量仪，只需按一键即可测量多个粗糙度参数。这些参数（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）会显示在直观的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充电电池，便于在所有环境和表面进行快速、轻松和的现场测量。测量原理通过采用耐磨的金刚石测针部件，以及精密的机动驱动装置，确保行进正确的水平距离。当测针划过波峰和波谷时，高感应度的压电传感器能检测到它的垂直移动，然后将机械移动转化为电子信号。电子信号将进行数字化处理并发送到微处理器，然后使用标准化算法即时计算表面粗糙度参数