轮廓仪

轮廓仪

         FTS Intra 既可以通过PDA 控制处理器携带到任何工作场合去工作，控制分析单元对驱动单元可连线控制，也可红外遥控；也可以通过与电脑的对接，测量的数据直接传输至计算机，由 Ultra 软件对仪器进行控制及对测量数据的分析。作为标准计量室内的检测设备。

        我们可以非常容易地把它从计量室带到工作地点，即使是临时的操作员也可以非常简单地进行操作，并得到测量结果。当然，由于设计，简而易行的操作，您几乎不用妨碍到生产的进度，就可以完成这些您所需要的表面形状与粗糙度的检测。

轮廓仪

[主营产品]fischer膜厚仪,粗糙度仪,激光干涉仪，三维扫描仪

便携式粗糙度仪轮廓仪圆度仪

Surtronic 25 便携式粗糙度仪（已停产）车间型精密粗糙度轮廓仪Form Talysurf Intra565/585XL

Surtronic DUO 粗糙度仪全自动光学轮廓仪PGI DimensionTalyrond 595H

Surtronic S-100系列泰勒霍音森Form Talysurf ilTalyrond 565H

Surtronic S-116泰勒霍普森白光干涉仪CCIMP Talyrond 400H

Surtronic S-128泰勒霍普森Form Talysurf PGITalyrond 450

Surtronic 3+ / Surtronic 3 Plus（早已停产）光学轮廓仪Talysurf PGI OpticsSurtronic R100

粗糙度仪配件英国Taylor Hobson PGI Matrix Talyrond 131c

 泰勒LuphoScan 260/420 HDSurtronic R50-R80

 Form Talysurf PGI NOVUSTalyMaster

  Talyrond 130

CCI HD 非接触式光学3D轮廓仪简介

CCI HD 是一种非接触式光学 3D 轮廓仪，具有测量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有新型关联算法，来查找由我们的精密光学扫描装置产生的干涉图的相干峰和相位。 这种新型的 CCI HD 整合了世界专业的非接触式尺寸测量功能和专业的厚薄膜测量技术。

CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度测量功能，还可以提供两种类型的膜厚测量。 近年来厚膜分析被用于研究厚度至约 1.5 微米的半透明涂料；测量的厚度限制取决于材料的折射率和标的物的 NA。 测量较薄的涂层被证实为难度更高。

现在通过干涉测量法可以研究厚度至 50 纳米（同样取决于折射率）的薄膜涂层。 采用这种新型方法，可以在单次测量中研究膜厚、界面粗糙度、针孔缺陷以及薄涂层表面的剥离等特性。