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大理石平台粗糙度测量

更新时间：2024-04-15

访问量：296

厂商性质：代理商

生产地址：

简要描述：

大理石平台粗糙度测量，泰勒霍普森粗糙度仪，随着粗糙度仪的技术和功能不断加强和完善，以及深入的推广和应用，越来越多的行业被发现会需求粗糙度的检测，除机械加工制造外，电力、通讯、电子、，如交换机上联轴器、集成电路半导体等生产加工过程中也需粗糙度的评定，甚至人们生活中使用的文具、餐具、人的牙齿表面都要用到表面粗糙度的检验。

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产品介绍：

品牌	TaylorHobson/英国泰勒霍普森	产地类别	进口
应用领域	环保,生物产业,石油,制药,综合

大理石平台粗糙度测量

泰勒霍普森粗糙度仪性能特点：

一个50mm长的测针升降装置和直角附件
360度任意旋转，任何方向任何高度测量
轻触快捷键即可进行所有关键设置。
迷你USB 2.0用于充电或连接电脑传输数据。
A类型USB 2.0可连接便携式打印机或USB存储设备。
防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。
测针还能够反方向底部测量。

技术参数

数据显示	显示屏每页显示7个测试结果，屏幕上可显示轮廓图（剖面图）
	可以打印测试结果和图形
	使用Talyprofile软件可以连接电脑，分析测试结果
数据存储	仪器可以存储100个测试数据和一个图形
	仪器支持U盘zui大4G，zui多可存储39,000个图形，每批可存储10万个测试结果，共70批数据。
	使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。
电源：	充电器	USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
	充电时间	4小时
	电池寿命	充电一次可以做2000次测试
	待机时间	5000小时,由待机状态到开机测试状态，zui长时间不超过1秒I
	自动关机	30秒– 6小时可以自行设置
技术指标	测量范围	400 um 100 um 10 um
	分辨率	50 nm 20 nm 5 nm
	底噪(Ra	150 nm 100 nm 50 nm
	重复精度 (Ra)	1%测试值+底噪
	传感器原	电感
	测量力	50-300mg
	测针针尖半径	标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)
	测试方式	滑动扫描
自动软件校准	标准：ISO4287