Fischerscope x-ray膜厚测试仪fischer

 Fischerscope x-ray膜厚测试仪fischer

Fischerscope x-ray膜厚测试仪fischer

德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚测试仪介绍：
1、适用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能。
2、频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。
3、能通过“应用工具箱"(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化。
4、画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离，见背面）
5、图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中
6、对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)

Fischerscope x-ray的产品特点;

1、FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。
2、XDL-B 的特色是*的距离修正方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL-B 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。

菲希尔FMP系列测厚仪的配件：