菲希尔XAN 250 x荧光射线测厚仪

菲希尔XAN 250 x荧光射线测厚仪

菲希尔XAN 250 x荧光射线测厚仪

x荧光射线测厚仪特点

菲希尔XAN 250根据DIN ISO 3497和ASTM B 568标准进行金属和贵金属分析，镀层厚度测量和RoHS筛查的通用X射线荧光光谱仪

菲希尔XAN 250半导体检测器（PIN和SDD） 确保出色的检测精度和高分辨率

XAN 250和252：用于测量铝，硅或硫之类的轻元素；

准直器：固定或4种可切换，最小测量点约为0.3mm

基本滤片：固定或6种可切换

固定样品支架或手动XY载物台

摄像头可轻松定位最佳测量位置

样品高度最多17厘米;

x荧光射线测厚仪应用

牙科合金的无损分析，银测试

多层镀层测试

电子和半导体行业中厚度为10nm以上的功能涂层的分析

消费者保护中的痕量分析，例如测试玩具中的铅含量

根据珠宝业和炼油厂最高精度要求测量金属合金含量

骏展仪器引用先进的技术和管理经验,建立完善的管理体系,产品质量和售前和售后进行严格控制,不断提高公司的产品质量和服务,赢得了客户的信任,使供应的产品在笃挚主要城市的国内和国际市场的快速增长,并获得好评。

双功能DualScope FMP20/FMP40该通用型号为磁感应和涡流方式提供自动的基板材料识别功能。 这两个单元都能够测量铁/钢，非铁磁金属和非导电载体材料等众多涂层。 Dualscope FMP40型号的附加功能包括多达20,000个读数的扩展内存，多达100个可校准应用程序，块的日期和时间戳，带有高斯图形的直方图的图形显示以及自动基材识别功能。