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菲希尔x射线测厚仪

更新时间:2022-04-07

访问量:91

厂商性质:代理商

生产地址:

简要描述:
菲希尔x射线测厚仪,XDLM测量系统经常用来测量接插件和触点的各种底材上的Au/Ni,Au/PdNi/Ni,Ag/Ni或Sn/ Ni镀层的厚度。
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,化工,石油,能源,电子

菲希尔x射线测厚仪

菲希尔x射线测厚仪

XAN 215 X射线荧光镀层测厚仪

菲希尔测厚仪产品用途

典型的应用领域有:

菲希尔测厚仪珠宝、贵金属和牙科用合金分析

菲希尔测厚仪黄金制品和K金制品分析

菲希尔x-ray铂金制品和银制品分析

菲希尔x-ray铑制品分析

菲希尔代理其他合金分析和镀层厚度测量

菲希尔代理多镀层厚度测量

菲希尔代理FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪,通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度,从元素氯(17)到铀(92),多可同时测定24种元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样,减少了校准仪器所需的时间和精力。Si-PIN的完全基本参数法,可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。

通用规格
设计用途

采用能量色散型X射线荧光光谱法(EDXRF),

用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度

元素范围从元素氯(17)到铀(92),多可同时测定24种元素。
重复性测量金元素时≤1‰,测量时间60秒
形式设计台式仪器,测量门向上开启
测量方向由下往上
X射线源
X射线管带铍窗口的钨靶射线管
高压三档:30KV,40KV,50KV
孔径(准直器)φ1mm;可选φ2mm
测量点尺寸当测量距离MD=0mm时,测量点直径=孔径直径+200μm
X射线探测
X射线探测器采用珀耳帖了法冷却的Si-PIN接收器

能量分辨率

(Mn元素Kα半高宽)

≤180eV
测量距离0 10mm
通过受保护的DCM测量距离补偿法,可在不同测量距离上不需要重新校准就能进行测量;对于特殊的应用或者对测量精度要求较高的测量,可能需要进行额外的校准。
样品定位
样品放置手动
视频系统高分辨率CCD彩色摄像头,可沿着初级X射线光束方向,手动焦距,对被测位置进行监控
十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸),可调节亮度的LED照明
图像发达倍数40x~160x
工作台
形式设计固定工作台
样品放置可用区域310x320mm
样品大重量13KG
样品高高度90mm
电气参数
电源要求AC 220V 50Hz
功耗大120W(不包括计算机)
保护等级IP40
尺寸规格
外部尺寸(宽x深x高)403x588x365mm
重量大约45KG
环境要求
使用时温度10℃~40℃
存储或运输时温度0℃~50℃
空气相对湿度≤95%,无结露
计算单元
计算机Windows®-PC
软件标准:Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能
可选:Fischer WinFTM®
执行标准
CE合格标准

EN 61010

X射线标准DIN ISO 3497 和ASTM B 568
形式批准
符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定

欢迎来到无锡骏展仪器有限责任公司网站, 我们主要经营仪器仪表、超声波探伤仪、磁粉探伤仪、超声波测厚仪、镀层测厚仪、表面粗糙度仪、里氏硬度计。我公司主要供应仪表量具/测量仪表粗糙度计等产品,我们的产品都是货真价实,性能可靠。


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