X射线测厚仪

X射线测厚仪

Fischerscope XDL230有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。

菲希尔X荧光射线测厚仪由于采用了FISCHER*基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

菲希尔X荧光射线测厚仪设计理念：

菲希尔X荧光射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台，马达驱动的Z轴系统。

菲希尔X荧光射线测厚仪高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。

菲希尔X荧光射线测厚仪测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。

Fischer X荧光射线测厚仪带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放，并且允许测量点的精确调整。

所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。

Fischer X荧光射线测厚仪XDL型镀层测厚及材料分析仪作为受*保护的仪器，型式许可*符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV"法规的规定。

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