一文了解X射线荧光测厚仪测试过程及注意事项

　　X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出好的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

　　X射线荧光测厚仪测量原理：

　　当原子受到原级X射线或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层空位，并同时放出次级X射线，即X射线荧光。X射线荧光的波长对不同元素是特征的，因此可以根据元素X射线荧光特征波长对元素做定性分析，根据元素释放出来的荧光强度，来进行定量分析如元素厚度或含量分析。

　　X射线荧光测厚仪测试过程及注意事项：

　　1．仪器及附件均处开机状态。

　　2．在程序库中选中与产品对应的曲线。

　　3．打开仪器前盖，台面自动伸出。

　　4．将样品放入仪器台面，测量大致位置对准仪器红外对焦点。

　　5．关闭仪器前盖，仪器台面自动归位。

　　6．在显示器屏幕中用鼠标控制仪器台面微调，精确对准测试位置。

　　7．测试过程中指示灯亮红，此时严禁打开仪器前盖。

　　8．测试时间十五秒主窗口及数据表中显示测试产品厚度。

　　9．指示灯熄灭，打开仪器前盖，台面自动伸出。取出样品，完成测试。