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一文了解X射线荧光测厚仪测试过程及注意事项

发布时间:2022-12-02   点击次数:56次
  X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出好的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
  X射线荧光测厚仪测量原理:
  当原子受到原级X射线或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位,原子内层电子重新配位,较外层的电子跃迁到内层空位,并同时放出次级X射线,即X射线荧光。X射线荧光的波长对不同元素是特征的,因此可以根据元素X射线荧光特征波长对元素做定性分析,根据元素释放出来的荧光强度,来进行定量分析如元素厚度或含量分析。
  X射线荧光测厚仪测试过程及注意事项:
  1.仪器及附件均处开机状态。
  2.在程序库中选中与产品对应的曲线。
  3.打开仪器前盖,台面自动伸出。
  4.将样品放入仪器台面,测量大致位置对准仪器红外对焦点。
  5.关闭仪器前盖,仪器台面自动归位。
  6.在显示器屏幕中用鼠标控制仪器台面微调,精确对准测试位置。
  7.测试过程中指示灯亮红,此时严禁打开仪器前盖。
  8.测试时间十五秒主窗口及数据表中显示测试产品厚度。
  9.指示灯熄灭,打开仪器前盖,台面自动伸出。取出样品,完成测试。

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