Fischer x射线荧光测厚仪

Fischer x射线荧光测厚仪

Fischer x射线荧光测厚仪

菲希尔测厚仪射线荧光分析法 (XRFA)能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。菲希尔x射线测厚仪无论是在实验室还是工业生产环境中，这一方法都能更好胜任，并还可以与现代化设备一起发挥作用。EDXRF作为一种常用测试方法，有着其突出的优势。Fischer x射线测厚仪它几乎可以测量所有工艺相关元素，并且工作时无损且不接触样品。测量时间一般在数秒钟内，很少多于一分钟。通常不需要复制的样品制备，即可进行快速测量。菲希尔x射线测厚仪利用该方法，可以同时测量均质材料及镀层的厚度和化学成分。不仅如此，EDXRF方法检测各种类型样品里的微量有害物质。

此外，X射线荧光分析是一种清洁的测量方法，测量过程不使用任何化学制品。由于有着合理精巧的设计，X射线不会对操作人员和环境构成任何威胁：菲希尔X射线仪器是安全可靠的

菲希尔x射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237典型的应用领域有：

1，测量大规模生产的电镀零部件

2，测量微小区域上的薄镀层

3，测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

4，全自动测量，如测量印刷线路板