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X射线荧光测厚仪使用过程中的注意事项都有什么?

更新时间:2022-09-02   点击次数:463次
  X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
  X射线荧光测厚仪工作原理:通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。
  X射线荧光测厚仪使用过程中的注意事项:
  1.因该仪器是一种电子仪器,仪器在进行测量之前要预热。
  2.因X射线荧光分析方法.是对光电子进行大量累积统计的结果.因此测量时间不能太短。足够的测量时间,尽量减小随机误差。
  3.准直器越小,检测效率和统计平均的效果都将下降,测量程序中所用准直器大小的选择,应与实际测量应用时相一致。
  4.因为受到可用厚度标准块的限制,厚度测量示值误差中所用的标准块,可根据条件许可。
  5.选择一到五十标准块进行测量,选择的基本原则是:镀层与基体的材料应与测量程序相一致,厚度的分布应能覆盖测量程序所用的范围,当厚度标准块的数量受限,应尽量选择与实际测量应用相接近的厚度块。
  6.如果有必要.可以改变相关的测量条件再进行重复性测量。