菲希尔测厚仪|Fischer

菲希尔测厚仪|Fischer

菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY XDL230通用规格

Fischer X射线测厚仪设计用途

能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXRF），

用于无损测量镀层厚度及分析材料成分

可测量元素范围

多可同时测定从氯（17）到铀（92）中的24中元素

（使用选配的WinFTM®BASIC软件时）

形式设计台式仪器，测量门向上开启

测量方向由上往下

X射线源

X射线管热稳定钨靶射线管

高压三档：30KV、40KV、50KV

孔径（准直器）φ0.3mm；可选长方形0.3x0.05mm

基本滤片固定

测量点尺寸

取决于测量距离和孔径大小，实际的量点大小与视频

窗口中显示的一致，小测量点大小：约为φ0.51mm

X射线探测

X射线探测器比例接收器

测量距离0 25mm，使用DCM测量距离补偿法

样品定位

样品放置手动

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头，可沿着初级X射线

光束方向，手动聚焦，对被测位置进行监控

十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）

可调节亮度的LED照明

图像放大倍率40x~160x

计算单元

计算机Windows®PC

软件标准：FISCHER WinFTM®LIGHT

可选：FISCHER WinFTM®BASIC，PDM®，SUPER

工作台

形式设计手动XY轴工作台

样品放置可用区域310x320mm

X/Y轴工作台移动范围30x40mm

样品大重量2KG

样品高高度174mm

电气参数

电源要求

交流220V，50HZ

功耗大120W（不包括计算机）

保护等级IP40

尺寸规格

外部尺寸（宽x深x高）403x588x444mm

重量大约45KG

环境要求

使用时温度10℃~40℃

存储或运输时温度0℃~50℃

空气相对湿度≤95%，无结露

执行标准

CE合格标准EN 61010

X射线标准DIN ISO 3497和ASTM B 568

形式标准

符合德国"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定

菲希尔测厚仪|Fischer