Surtronic S116|泰勒霍普森粗糙度仪

Surtronic S116|泰勒霍普森粗糙度仪

测量能力S-116S-128

传感器量程200 μm / 100 μm / 10 μm400 μm / 100 μm / 10 μm

分辨率100 nm / 20 nm / 10 nm50 nm / 10 nm / 5 nm

低噪音 (Ra)250 nm / 150 nm / 100 nm150 nm / 100 nm / 50 nm

重复性 (Ra)1 % 值 + 噪 音0.5 % 值 + 噪 音

传感器类型电感

测量力150-300 mg

测头针尖半径5 μm (200 μin)默认/2 μm (80 μin)或10 μm (400 μin) 可选

测量类型导块滑动

校正过程自动软件校正程序

标准能够根据ISO 4287粗糙度标准校正

分析滤波器取样长度0.25 mm/0.8 mm/2.5 mm

滤波器类型2CR/高斯

评价长度0.25 mm-17.5 mm(0.01 in-0.70 in)0.25 mm-25.0 mm(0.01 in-1.00 in)

X轴最大行程17.5 mm25.5 mm

速度测量速度1 mm/秒  (0.04 in/秒)

返回速度1.5 mm/秒  (0.06 in/秒)

分析能力（仪器）S-116S-128

参数标准ISO 4287, ISO 13565-1, ISO 13565-2, ASME 46.1, JIS 0601, N31007

ISO基本Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ISO高级可选Rk, A1, A2, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk

ASMERa, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JISRa, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他R3z (Daimler Benz)

ISO原始参数可选Pa, Pv, Pp, Pz, Pt, Pq, Psk, Pmr, Pdq, Ppc, PSm, Pz1max

单位μm / μin

Surtronic S116|泰勒霍普森粗糙度仪

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泰勒霍普森粗糙度仪坚固、快速和可靠的手持式粗糙度测量仪

适用于车间、工业和检测室的应用

泰勒霍普森粗糙度仪快速可靠的测量

轻轻的按下测量按钮，在几分钟内就能得到一个完整的可追溯的测量结果，包括可在屏幕上显示的详细轮廓曲线图或者自动打印出测量结果，打印机可选。

泰勒霍普森粗糙度仪用户友好使用界面

Surtronic S-100系列仪器像其他导航或者智能手机一样，拥有4.3大尺寸工业用触屏，易读性强。一页上可显示多至7个参数，以及测量设置和系统信息。

泰勒霍普森粗糙度仪特殊设计，坚固耐用

整个机身由塑化橡胶包裹。聚脂薄膜保证了触 

摸屏的持久耐用性，内部有抗磨损的齿轮和轴承，以及坚固的不锈钢驱动机构。系统电源是一个3000毫安时的大容量锂聚合物电池，一次充电便可进行至少2000次测量。