泰勒霍普森S116粗糙度仪量程信息

S116 测量量程达 200μm，最小分辨率 5nm，Ra 参数测量误差仅 ±(2%+0.004μm)，单次测量误差≤±3%，满足工业级精密检测需求。仪器配备触摸屏操作界面，支持一键快捷设置，四向可旋转屏幕适配各类测量姿势，即便在狭小空间也能轻松读数。独特的升降调整机构与直角测量附件，可实现孔深 70mm 内表面测量，测针翻转设计更能突破架空、管道内等特殊位置的测量限制，大幅拓展应用场景。

人性化设计贯穿产品细节：防滑 V 型脚架确保曲面测量时与工件轴线精准对齐，人体工学机身提升手持舒适度，高防护涂胶塑性外壳可抵御车间油污、粉尘侵蚀。仪器支持多项国际标准参数测量，实时显示的轮廓图便于快速分析表面质量，搭配专用标准件可实现定期校准，保障长期测量精度。