品牌 | TaylorHobson/英国泰勒霍普森 | 产地类别 | 进口 |
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应用领域 | 环保,生物产业,石油,制药,综合 |
SURTRONIC S116粗糙度仪代理
泰勒霍普森SURTRONIC S116技术参数
泰勒霍普森SURTRONIC S116数据显示 :
显示屏每页显示7个测试结果,屏幕上可显示轮廓图(剖面图)
可以打印测试结果和图形
使用Talyprofile软件可以连接电脑,分析测试结果
数据存储
仪器可以存储100个测试数据和一个图形
仪器支持U盘zui大4G,zui多可存储39,000个图形,每批可存储10万个测试结果,共70批数据。
使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。
电源:
充电器
USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
充电时间
4小时
电池寿命
充电一次可以做2000次测试
待机时间
5000小时,由待机状态到开机测试状态,zui长时间不超过1秒I
自动关机
30秒– 6小时可以自行设置
技术指标
测量范围
400 um 100 um 10 um
分辨率
50 nm 20 nm 5 nm
底噪(Ra
150 nm 100 nm 50 nm
重复精度 (Ra)
1%测试值+底噪
传感器原
电感
测量力
50-300mg
测针针尖半径
标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)
测试方式
滑动扫描
自动软件校准
标准:ISO4287
测试参数
三个取样长度
0.25mm、0.8mm、2.5mm
二个滤波器
2CR、Gaussian
评定长度
0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选
zui大行程
17.5mm
测试速度
测试速度
1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度
1.5mm/sec(0.06in/sec)
执行标准
ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO标准可以测量12个参数
Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME标准可以测量11个参数
Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
ASME标准可以测量12个参数
Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
ASME标准可以测量13个参数
R3z (Daimler Benz)
ASME标准可以测量14个参数
um/uin
SURTRONIC S116粗糙度仪代理
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