品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
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应用领域 | 环保,生物产业,石油,制药,综合 |
泰勒霍普森DUO TAYLOR HOBSON
测量参数 | Ra:0.1μm~40μm(1μin-1600μin) Rz:0.1μm~199μm(1μin-7800μin) |
显示单位 | μm/μin |
传感器类型 | 压电式 |
测量行程 | 5mm |
测量速度 | 2mm/sec |
传感器接触力 | 200mg |
整机尺寸 | 125×80×38 mm |
重量 | 200 gm |
仪器范围 | 200μm |
分辨率 | 0.01μm |
精度 | Ra:读数的±5% Rz:读数的±5% |
测量方式 | 压电式 |
探头 | 钻石,半径为5μm |
zui小孔径 | 65mm |
电池寿命 | 约500小时或10,000次操作 |
泰勒霍普森DUO TAYLOR HOBSON
英国泰勒-霍普森TAYLOR HOBSON型可分离式Surtronic Duo是一种便携式表面粗糙度测量仪,只需按一键即可测量多个粗糙度参数。这些参数 (如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt)会显示在直观的2.4英寸 LCD彩色屏幕上。新型Surtronic DUO使用大容量充电 电池,便于在所有环境和表面进行快速、轻松和的现场测量。 英国泰勒新型手持式粗糙度仪Surtronic DUO可测量多种粗糙度参数:Ra, Rz, Rp, Rv, Rt, Rz1max, Rsk, Rq, Rku; Pa, Pz, Pp, Pv, Pt(ISO 4287标 准)。
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