| 品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,生物产业,石油,制药,综合 |
镀银层厚度测量
从1953年至今，菲希尔公司不断地在涂镀层测厚、材料分析、微硬度测量和材料测试领域发展出创新型的测量技术。如今，菲希尔的测量技术已在世界各地得到应用，满足客户对仪器准确度、精度和可靠性的要求。目前，有超过10000台X射线仪器投入使用，而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成为强大，可靠和耐用的X射线荧光测量设备的代名词。
菲希尔X射线荧光分析法 (XRFA)：
能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中，这一方法都能胜任，并还可以与现代化设备一起发挥作用。
菲希尔X射线荧光法（XRFA）的优点：
快速无损的镀层厚度测量（单层或多镀层）
分析固态，粉末或液态样品
有害物痕量分析
高精度和准确度
十分广泛的应用
准确测量基材是磁性和导电的材料
样品制备非常简单
测试方法安全，没有使用危害环境的化学制品
无耗品，物超所值
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