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镀银层厚度测量

更新时间:2024-04-15

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厂商性质:代理商

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简要描述:
镀银层厚度测量,菲希尔金属镀层膜厚仪,目前,有超过10000台X射线仪器投入使用,而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成为强大,可靠和耐用的X射线荧光测量设备的代名词。
品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,生物产业,石油,制药,综合

镀银层厚度测量

从1953年至今,菲希尔公司不断地在涂镀层测厚、材料分析、微硬度测量和材料测试领域发展出创新型的测量技术。如今,菲希尔的测量技术已在世界各地得到应用,满足客户对仪器准确度、精度和可靠性的要求。目前,有超过10000台X射线仪器投入使用,而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成为强大,可靠和耐用的X射线荧光测量设备的代名词。

菲希尔X射线荧光分析法 (XRFA):

能量散射X射线荧光光谱法(EDXRF)作为镀层厚度测量和材料分析的方法,可用来定量和定性分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中,这一方法都能胜任,并还可以与现代化设备一起发挥作用。

菲希尔X射线荧光法(XRFA)的优点:

  • 快速无损的镀层厚度测量(单层或多镀层)

  • 分析固态,粉末或液态样品

  • 有害物痕量分析

  • 高精度和准确度

  • 十分广泛的应用

  • 准确测量基材是磁性和导电的材料

  • 样品制备非常简单

  • 测试方法安全,没有使用危害环境的化学制品

  • 无耗品,物超所值


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