品牌 | TaylorHobson/英国泰勒霍普森 | 产地类别 | 进口 |
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应用领域 | 环保,制药,综合 |
SURTRONIC3+仅手掌大小,可携带到任何需要测量表面粗糙度的地方。设计探头支架可轻易使探头和被测工件表面稳定接触。内置电池驱动,在操作过程中微型电源。测量通过按键控制,采用菜单选择方式,简单易行。测量结果可输出打印,或与DPM数据处理器连接。测量值在行程结束后2秒钟自动显示。可选择多种探头和附件以满足各种形状工件的测量。
泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC3+技术参数
测量范围:±150um
分辨率:10.0nm
*大行程长度:25.4mm
测量参数:Ra、Rq、Rzdin、Ry、Sm、Tp
测量精度:2%+LSD祄
输出:打印机,可打印测量条件、测量结果和图形
泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC3+探头
标准探头-- 用于一般测量,测尖半径5um
小孔探头-- 用于小孔槽和狭小平面
小槽探头-- 测量深大5.5mm的O型环槽和狭槽
沟槽探头-- 测量深大5.7mm和25mm的沟槽底部或台阶底部
直角探头-- 在与行程方向成直角的方向上测量
侧面导块探头-- 用于测量例如齿面等曲面
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