Fischer菲希尔x荧光射线测厚仪

Fischer菲希尔x荧光射线测厚仪

菲希尔x射线测厚仪Fischerscope X-RAY XULM系列简介

菲希尔x射线测厚仪为了使每次测量都能在的条件下进行，Fischer x射线测厚仪 XULM配备了可电动调整的多种准直器及基本滤片。

比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。菲希尔镀层测厚仪可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。

菲希尔镀层测厚仪XULM型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

本款仪器特别适合用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

菲希尔x荧光射线测厚仪典型的应用领域有：

Fischerscope X-RAY微小零部件、接插件和线材上镀层厚度的测量

印制线路板上手动测量

珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析

Fischer菲希尔x荧光射线测厚仪

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