Fischer代理镀层测厚仪

Fischer代理镀层测厚仪

菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY主要特点：

• X射线荧光镀层测厚仪Z多可同时测定从铝( 13 )到铀(92 )中的24种元素

• 测量门向上开启的台式仪器,侧面开槽设计。

• 马达驱动、可编程运行的X/Y轴工作和Z轴升降台

• 马达驱动、可切换的准直器和基本滤片。

• 配备三挡高压和4个可切换的基本滤片。

• 可按要求,提供额外的XDV型产品更改和XDV仪器技术咨询。

菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY镀层厚度测量
■测量未布元器件和已布元器件的印制线路板
■在纳米范围内测量复杂镀层系统,如引线框架上Au/Pd/Ni/CuFe的镀层厚度
■对 12英寸直径的晶圆进行全自动的质量监控
■在纳米范围内测星金属化层 (凸块下金属化层，UBM ):遵循标准 DIN EN ISO 3497 和ASTM B568
菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY材料分析
■分析诸如Na等极轻元素
■分析铜柱 上的无铅化焊帽
■ 分析半导体行业中C4或更小的焊料凸块以及微小的接触面
菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY典型应用领域
■测量PCB、 引线框架和晶片上的镀层系统
■测 星微小工件和线材上的镀层系统
I分析微小工件的材料成分

Fischer代理镀层测厚仪