菲希尔镀层测厚仪XDAL

菲希尔镀层测厚仪XDAL

菲希尔镀层测厚仪XDAL

菲希尔x-ray射线荧光光谱镀层材料分析仪

x射线厚度测试仪

菲希尔镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237设计理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237菲希尔镀层测厚仪是一款界面友好的台式测量仪器。它装备了高精度，可编程运行的 工作台和电调的轴升降系统，是进行自动测量的理想仪器。菲希尔镀层测厚仪当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。通过激光光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大能，可以精-确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。位置的精-确微调可以直接手动调整仪器或摇杆，或通过操作鼠标和键盘来现。测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。所有的操作，量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的 软件在电脑上完成的。

菲希尔测厚仪凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。在设计上，FISCHERSCOPE XRAY XDAL菲希尔测厚仪型仪器和XDLM型仪器相对应。区别在于使用的探测器类型不同。在XDAL上，使用了帕尔贴制冷的硅PIN探测器，从而有了远好于XDLM使用的比例计数器的能量分辨率。因而，这台仪器适合于一般材料分析，痕量元素分析及测量薄镀层厚度。

菲希尔测厚仪X射线源是一个能产生很小光斑面积的微聚焦X射线管。然而，由于相对较小的探测器有效接收面积(相比较比例计数器探测器来说)，信号强度低，故XDAL有限适用于极微小结构和测量点的测量。和XDLM类似，准直器和基本滤片是可自动切换，以便为不同测量程式创造良好的激励条件。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器的测量空间宽大，可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置z高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。