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Taylor Surtronic S128

更新时间:2022-05-05

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厂商性质:代理商

生产地址:

简要描述:
Taylor Surtronic S128,泰勒霍普森高精度粗糙度仪,便携式粗糙度仪,测量精度高。
品牌其他品牌产地类别进口
应用领域环保,化工,石油,能源,电子

Taylor Surtronic S128

Taylor Surtronic S128

泰勒霍普森Surtronic S128粗糙度仪适用于车间、工业和检查室的运用,是高性价比的表面粗糙度测量解决方案!

泰勒粗糙度仪快速可靠的测量

轻轻的按下测量按钮,在几分钟内就能得到一个完整的可追溯的测量结果,包括可在屏幕上显示的详细轮廓曲线图或者自动打印出测量结果,打印机可选。

泰勒霍普森粗糙度仪特殊设计,坚固耐用

整个机身由塑化橡胶包裹。聚脂薄膜保证了触摸屏的持久耐用性,内部有抗磨损的齿轮和轴承,以及坚固的不锈钢驱动机构。系统电源是一个3000毫安时的大容量锂聚合物电池,--次充电便可进行至少2000次测量。  

Surtronic S128现场测量

在现场检测产品磨损和粗糙度的变化,预估产品的寿命。例如,检测涡轮片表面租糙度的变化,作为早期缺陷和效率损失的预警信号。

无锡骏展仪器有限责任公司公司拥有雄厚的资源优势,拥有仪器设备“选型、采购、测量、校准、操作人员培训、售后服务"的服务。公司销售的仪器仪表设备,广泛应用于工厂、企业、测量机构和科研机构。

泰勒霍普森粗糙度仪

Ra是公认的zui常用的粗糙度参数。RA:表示轮廓算术平均偏差。在取样长度内,沿测量方向(Y方向)的轮廓线上的点与基准线之间距离值的算术平均值。

rp.Rp:表示zui大轮廓波峰高度。在取样长度内,大的轮廓zui高峰顶线和低谷底线之间的距离。当分析一个以上的取样长度时,Rp是每个样品的单个Rp值的平均值。

RSm。rsm是在取样长度内测量的平均线处轮廓峰之间的平均间距。(轮廓峰是轮廓的zui高点,位于平均线的上下交叉点之间)。

RZ。Rz=Rp+Rv,是分析一个以上采样长度时,一个采样长度内剖面的zui大峰谷高度Rz是每个采样长度的单个Rz值的平均值。

Rz1zui大值。在取样长度范围内,剖面的大峰谷高度。在多个采样长度上测量时,取zui大的单个采样长度值。过去也被称为Rymax、Ry、Rmax或RTI


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