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泰勒TAYLOR HOBSON粗糙度仪

更新时间:2024-04-15

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厂商性质:代理商

生产地址:

简要描述:
泰勒TAYLOR HOBSON粗糙度仪,一个50mm长的测针升降装置和直角附件;360度任意旋转,任何方向任何高度测量;轻触快捷键即可进行所有关键设置。迷你USB 2.0用于充电或连接电脑传输数据。A类型USB 2.0可连接便携式打印机或USB存储设备。防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。测针还能够反方向底部测量。
品牌TaylorHobson/英国泰勒霍普森价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,生物产业,石油,制药,综合

泰勒TAYLOR HOBSON粗糙度仪

泰勒霍普森粗糙度仪surtronic s100标准配置:

显示单元;112-1502标准测针;测针连接线;多刻线样板;测针提升机构;接口充电器;使用手册;USB通讯电缆;仪器箱

泰勒霍普森粗糙度仪surtronic s100可选附件

测试平台:00级大理石平板:400X250X70mm有效高度:280mm。可调Y轴V型铁可调范围:±5mmV型铁长度100mm

泰勒TAYLOR HOBSON粗糙度仪


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Surtronic S-116典型应用领域包括但不限于:

过程控制:研磨、车削、铣削、绗磨、抛光、压挤

汽车:齿轮、连杆、 缸孔、缸体、曲轴

重工业:造船业、输油管道、钢板

航空航天:涡轮叶片、涡轮轴、机翼复合材料

其他:印刷辊、地板、粘合




泰勒霍普森Surtronic S-100系列新型粗糙度仪的粗糙度测量分析参数: 执行标准:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007等 ISO标准可以测量12个参数: Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max ASME标准可以测量11个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda JIS标准可以测量14个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc 其他 :R3z (Daimler Benz) 测试单位:um/uin 更多测量参数可选配我们的TalyProfile粗糙度分析软件。

无锡骏展仪器,我们经营各类物理测量仪器,是世界的正规代理商和供应商,产品种类齐全,包括各种测量仪器及相关的各种配件,我们的产品覆盖zui常见的测量任务。 对于非标准测量,可以使用多种系统附件,以便对整个测量任务进行系统定制。询价,我们有专业的技术人员和多年的从业经验,可以提供根据您的具体要求为您提供量身定制的测量方案。

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