Fischerscope X-RAY XDL230

Fischerscope X-RAY XDL230

Fischerscope X-RAY XDL230

菲希尔测厚仪通用规格

菲希尔x射线测厚仪设计用途：能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF)， 用于测定超薄镀层和溶液分析。

菲希尔x射线测厚仪元素范围：从元素 氯(17) 到 铀(92) 配有可选的WinFTM? BASIC软件时， 多可同时测定24种元素

菲希尔x射线测厚仪设计理念：台式仪器，测量门向上开启

Fischer x射线测厚仪测量方向：由上往下

菲希尔x射线测厚仪X射线源

X射 带铍窗口的钨管

高压： 三档： 30 kV，40 kV，50 kV

孔径（准直器）： ? 0.3 mm 可选 0.1 mm； ? 0.2 mm；长方形0.3 mm x 0.05 mm

测量点尺寸：取决于测量距离及使用的准直器大小， 实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 小的测量点大小约? 0.2mm

X射线探测

X射线接收器：测量距离

比例接收器：0 ~ 80 mm，使用保护的DCM测量距离补偿法

菲希尔镀层测厚仪样品定位

菲希尔镀层测厚仪视频系统：高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置 手动聚焦，对被测位置进行监控十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸） 可调节亮度的LED照明，激光光点用于定位样品

菲希尔镀层测厚仪放大倍数：40x – 160x

菲希尔镀层测厚仪电气参数

电源要求：220 V ，50 Hz

功率: 120 W （不包括计算机）

保护等级:IP40

尺寸规格

外部尺寸：宽×深×高[mm]：570×760×650

菲希尔X射线测厚仪内部测量室尺寸：宽×深×高[mm]：460×495x（参考“样品 高度"部分的说明）

菲希尔X射线测厚仪重量：107 kg

菲希尔X射线测厚仪环境要求

使用时温度：10°C – 40°C

Fischer x射线测厚仪存储或运输时温度：0°C – 50°C

Fischer x射线测厚仪空气相对湿度：≤ 95 %，无结露

Fischer x射线测厚仪工作台

设计：手动X/Y平台

X/Y平台 移动范围：95 x 150 mm

可用样品放置区域：420 x 450 mm

Z轴：马达驱动

Z轴移动范围：140 mm

样品 重量：20kg

样品 高度：140 mm

激光（1级）定位点：有

计算单元

计算机：带扩展卡的WINOOWs?计算机系统

软件标准： WinFTM? V.6 LIGHT

可选： WinFTM? V.6 BASIC，PDM，SUPER

执行标准CE合格标准：EN 61010

型式许可：作为受*保护的仪器 型式许可*符合德国“Deutsche R?ntgenverordnung-RV"法规的规定。