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菲希尔代理|Fischer测厚仪

更新时间:2024-06-20

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厂商性质:代理商

生产地址:

简要描述:
菲希尔代理|Fischer测厚仪,多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层(如50 nm Au或100 μm Sn)都通过选择好的高压滤片组合很好地测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100 μm的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。
品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,生物产业,石油,制药,综合

菲希尔代理|Fischer测厚仪

FISCHERSCOPE XUL



FISCHERSCOPE XULM

一款适合电镀厂测量镀层厚度的便宜耐用的仪器。

它配备了一个固定的准直器和滤片,射线管出射

点稍大,非常适合测量点在1mm以上的应用。低

能射线元件激发效率较低;但是对于标准的测量典

型电镀层厚度的应用,如CrNiCu,没有任何问题。



多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层(如50 nm Au100 μm Sn)都通过选择好的高压滤片组合很好地测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100 μm的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。

FISCHERSCOPE  XAN 110/120



FISCHERSCOPE  XAN

专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较

XAN而言,只有一个固定的准直器和固定的

滤片,特别适合贵金属分析。XAN 110配备

比例接收器,适于几种合金元素的简单分析。

XAN 120配备了半导体接收器,更可以应用于

多元素的复杂分析。



分析仪器,测量方向从下到上。用途广泛。测量室全封闭,可以使用大准直器分析,高计数率也可以被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质痕量分析的理想仪器。

FISCHERSCOPE XDL



FISCHERSCOPE XDLM

适合镀层厚度测量的耐用仪器,即使大测量距

离也可以测量(DCM,范围0-80mm)。配

备一个固定的准直器和固定的滤片。适合测量

点在1mm以上的应用;跟XUL类似。可选用自

动测量的可编程工作台。



XDL适用面更广,配备微聚焦管,4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头
XULM相似;适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板,也可以测量大的
工件(DCM,范围0-80 mm)。

FISCHERSCOPE  XDAL



FISCHERSCOPE  XDV-SDD

XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可

能可以分析元素和测量超薄镀层(基于良好的信

噪比)。因为信号强度略低,不太适合测量较小的结构。



适合于全部应用的机型。根据测量点大小和光谱组成,激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器,即使强度高达>100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理

FISCHERSCOPE  XDV-μ



FISCHERSCOPE 

于微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件

的不同,可以分析小到100μm或更小的结构。强

度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层,测量

不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量空白或

接近空白的样品。



具备综合测量能力的通用机型。与XDV-XDD相当,但另外配备了可抽真空的测量室,这样就使得分析从原子序数Z=11Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以准确定位样品位置和测量细小部件


菲希尔代理|Fischer测厚仪

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