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金银镍镀层测厚仪

更新时间:2024-04-15

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厂商性质:代理商

生产地址:

简要描述:
金银镍镀层测厚仪,菲希尔测厚仪,Fischer镀层测厚仪,X荧光射线测厚仪。Fischer
品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,生物产业,制药,综合

金银镍镀层测厚仪

Fischerscope x-ray XAN菲希尔X射线测厚仪

Fischerscope X-RAY XAN® 系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层,即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高,因此在同类产品中脱颖而出。

性:

  • 操作简单且性价比高。

  • 自下而上进行测量,从而快速、简便地定位样品

  • 广泛适用:为各个行业的典型需求量身定制了多种型号

  • 以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析

  • 带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型,可对薄镀层及微量成分进行精确测量

Fischerscope X-RAY XAN应用:

Fischerscope X-RAY XAN镀层厚度测量

  • 厚度仅为几纳米的贵金属镀层

  • 时尚首饰:对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析

  • 抗磨损镀层,如:对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量

  • 测试纳米级基础金属化层(凸点下金属化层,UBM)

Fischerscope X-RAY XAN材料分析

  • 测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度

  • 专业实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析

  • 依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则,检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质(例如重金属)

  • 功能性镀层的成分,如测定化学镍中的磷含量。

Fischerscope X-RAY XAN XUL / XULM

在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时,XUL®系列测量仪器是您的解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量,能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。

金银镍镀层测厚仪

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