金银镍镀层测厚仪

Fischerscope x-ray XAN菲希尔X射线测厚仪

Fischerscope X-RAY XAN® 系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高，因此在同类产品中脱颖而出。

性：

• 操作简单且性价比高。

• 自下而上进行测量，从而快速、简便地定位样品

• 广泛适用：为各个行业的典型需求量身定制了多种型号

• 以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析

• 带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型，可对薄镀层及微量成分进行精确测量

Fischerscope X-RAY XAN应用：

Fischerscope X-RAY XAN镀层厚度测量

• 厚度仅为几纳米的贵金属镀层

• 时尚首饰：对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析

• 抗磨损镀层，如：对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量

• 测试纳米级基础金属化层（凸点下金属化层，UBM）

Fischerscope X-RAY XAN材料分析

• 测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度

• 专业实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析

• 依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则，检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质（例如重金属）

• 功能性镀层的成分，如测定化学镍中的磷含量。

Fischerscope X-RAY XAN XUL / XULM

在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时，XUL®系列测量仪器是您的解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。

金银镍镀层测厚仪