Couloscope CMS2 STEP 菲希尔库伦法测厚仪介绍

Couloscope CMS2 STEP 菲希尔库伦法测厚仪介绍

COULOSCOPE CMS2 STEP菲希尔库伦法测厚仪

•与COULOSCOPE CMS2附录中描述的相同功能用于STEP测量测量

•可调节的除镀电流

•使用光标确定涂层厚度和潜在差异

•自动测量序列，用于调节银参比电极（产生所需的AgCl涂层）

STEP测试（同时厚度和电化学势测定），ASTM B764，DIN EN 16866

在电镀行业中，对多层镍镀层中各自层的同时的厚度和电极电位的测定变成了一个越来越重要的需求。的多镀层组成为不含硫的半光亮镍层和含硫的光亮镍层。这两个镍层?reg;间足够的电位差导致了光亮镍层优先腐蚀于半光亮镍层。这种次序也就延迟了整个镍层的穿透速度，并且给了基材相对于单镀层更好的防腐保护。