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菲希尔纳米压痕仪FISCHERSCOPE HM2000特点

更新时间:2022-06-21   点击次数:700次

菲希尔纳米压痕仪FISCHERSCOPE HM2000特点

菲希尔X射线测厚仪根据DIN EN ISO 14577-1 Annex A和ASTM E 2546确定材料参数

菲希尔X射线测厚仪确定粘弹性材料特性的动态模式(动态力学分析)

快速测量:30秒内确定零点

即使对于暗表面,也仅需少许的样品预处理准备

菲希尔X射线测厚仪适用于测量块体材料和厚度大于1μm的涂层, 测量载荷范围0.1 – 2000 mN 

热稳定性和抗振动:可以稳定测量数小时而不受无外界因素影响

菲希尔X射线测厚仪可编程的全自动化样品台,自动测量多个测量点

菲希尔X射线测厚仪配有4倍至40倍物镜的显微镜,以精确定位测量点

模块化的设计可实现用户特定配置或设备的未来升级

压头: 维氏压头、柏氏压头、硬质金属球型压头、努氏压头或其它定制压头

强大的WIN-HCU软件,便于直观地操作和测量评估