菲希尔设备

菲希尔设备

菲希尔设备X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，菲希尔仪器配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台，用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希尔仪器是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。菲希尔设备其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台，是全自动测量样品的理想设备。
XDV-SDD设计为界面友好的台式测量仪器。菲希尔设备它配备了高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和马达驱动的Z轴升降台。当具有防护功能的测量门开启时，样品台能自动移出到放置样品的位置。通过激光点，可以快速对准需要测量的位置。仪器内置带有图像放大及十字线功能的视频系统，简化了样品放置的过程，并可对测量点位置进行精确微调。