泰勒霍普森粗糙度仪|SURTRONIC DUO产品介绍

泰勒霍普森粗糙度仪|SURTRONIC DUO产品介绍

Surtronic Duo便携式表面粗糙度测量仪技术指标：

分辨率： 0.01μm（0.4μin）

量程（Ra）： zui大值40μm（1600μin）（Rz、Rv、Rp、Rt）：zui大值199μm（7800μin）

重复性： 示值的2% + 噪声

精度： 读数的5% + 0.1μm（4μin）

噪声： 0.02μm（0.8μin）

标准： ISO4287

参数： Ra、Rz、Rv、Rp、Rt、Rz1mzx、Rsk、Rq、Rku，Pa、Pz、Pv、Pp、Pt

传感器类型： 压电式

测针类型： 金刚石，半径5μm（200μin）

测量力： 200mg

测量类型： 导块式

滤波器类型： 高斯滤波

取样长度： 0.8mm

驱动长度： 5mm（0.2in）

驱动速度： 2mm/秒（0.08in/秒）

单位： μm、μin

电池： 锂充电电池

充电时间： 4小时

充电器： 输入 交流110-240V 50/60Hz 输出 Mini USB 5V 1A 待机到工作状态： ≤5秒

自动休眠： 5分钟

操作环境： 温度：0-40℃ 湿度：0-80%非冷凝

存储环境： 温度：0-50℃ 湿度：0-80%非冷凝