菲希尔代理X射线测厚仪产品信息

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FISCHERSCOPE XAN500

一台仪器，三种作业模式：XAN®500不只是一台手持便携式XRF设备，它还可以转变为台式仪器或者整合到生产线中。

FISCHERSCOPE MMS PC2

采用不同测量技术的模块化系统：非常适用于与涂镀层厚度测量和材料测试相关的各种需求。

COULOSCOPE CMS2

台式测厚仪，几乎可测量金属或非金属底材上所有金属镀层（包括多镀层）的厚度。

FISCHERSCOPE  GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列X射线荧光仪器是专为分析黄金和其他贵金属而设计的

FISCHERSCOPE XAN

用于快速、高效地测量镀层厚度及材料成分分析的测量仪器。

FISCHERSCOPE XUL / XULM

基于 X 射线荧光法的测试仪器，坚固耐用，快速、高效地测量镀层厚度，特别适合电镀行业。

FISCHERSCOPE XDL / XDLM / XDAL

功能强大：XDL 系列仪器具有全面的配置方案，可手动或自动测试，是镀层厚度测量与材料成分分析的理想之选。

FISCHERSCOPE XDV-SDD

FISCHERSCOPE XDV-SDD专为满足高要求的镀层厚度测量和材料分析而设计

FISCHERSCOPE XDV-µ

FISCHER的XDV-µ型系列仪器，可用于测量电子或珠宝等行业中最微小结构的产品

FISCHERSCOPE XUV

X 射线荧光仪器，配有用于分析轻元素的真空测量室。

FISCHERSCOPE XDL / XDLM / XDAL

凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择X 射线仪器。