菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY特点:
用途广泛的镀层厚度测量仪,包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等;
菲希尔X射线测厚仪通过组合可选的高压和滤片,可以对较薄的镀层(如50 nm Au 或 100 μm Sn)和较厚的镀层进行同样效果的测量;
Fischer X射线测厚仪配有的微聚焦管,可以测量100 μm大小的微小测量点;
比例计数器可实现数千cps(每秒计数率)的高计数率;
从下至上的射线方向,从而可以快速简便的放置样品;
底部C型开槽的大容量测量舱。
菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY典型应用领域:
测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层;
电子行业中接插件和触点上的镀层;
装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS;
电镀镀层,如大规模生产零件(螺栓和螺母)上的防腐蚀保护层Zn/Fe,ZnNi/Fe;
珠宝和钟表工业;
测量电镀液中金属成分含量,例如金层测厚、银层测厚。
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