EPK测厚仪机械测厚仪影响精度因素
由于测厚仪经过校准后,在使用中不能再变动。所以,在实际使用中,可能会出现的一些影响测量精度的因素必须加以考虑,并对测量结果进行必要的修正,具体因素如下:
A.钢基体的磁性和光泽
B.基底金属的厚度:
仪器有一个很小的基体临界厚度值zui。不同型号的厚度值不同。请参考技术规格。如果厚度超过zui的这个小临界厚度值,测量值不会受到影响。否则读数值高。
C.边绝效应
测量方法对被测物体表面形状的突变敏感,如边界、孔洞、空洞等。因此,在边缘或内角附近测量是不可靠的。所以技术规范指标指出了zui的测量面积小。如果你想测量,你必须检查和验证。
D.弯曲
被测工件的曲率对测量有影响。一般凸面会导致测量值过大,凹面过小。虽然仪器设计对此进行了补偿。
E.覆盖层厚度
厚度测量精度随表面涂层厚度的变化而变化。对于薄涂层,测量精度是常数,与涂层厚度无关;对于涂层的厚度,其精度大致与涂层厚度成正比。
F.剩磁
金属的剩磁会影响Mikrotest测厚仪的测量结果。
G.磁场
周围各种电气设备产生的强磁场会严重干扰仪器的工作。
H.地心引力
Mikrotest测厚仪的测量读数受探头相对于地球的重力方向的影响。
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