fisher镀层膜厚测厚仪校验标准片产品信息

fisher镀层膜厚测厚仪校验标准片

校准

只有经过精密校准的测量仪器才能提供准确结果。FISCHER提供适用于测试和分析材料、测量涂镀层厚度以及进行纳米压痕测试所需的各种校准材料。其中包括，铁素体与电导率标准块以及用于涂镀层厚度的校准箔。我们的所有校准标准片均可溯源至受认证的主标准片。

FERITSCOPE FMP30铁素体测试仪校准表:
标准
显示了两个单位:铁素体数FN和百分比含量%Fe。可通过出厂前设置校正系数或客户定制的标准胶片进行校正。减少工件几何形状(曲率、厚度等)测量的准仪器。)的影响。不同的校准信息存储在不同的应用中。在公式内。