泰勒霍普森粗糙度仪SurtronicDUO信息

泰勒霍普森粗糙度仪|泰勒surtronic duo

Surtronic Duo II 手持式表面粗糙度测量仪被广泛用于生产现场、工业厂房和检测室。Surtronic Duo II 可用于评估地面的安全性，也可帮助地面材料制造商控制生产过程中的粗糙度。它可靠、耐用、快速、易于使用，并且只需很少的培训。Surtronic Duo II  数字式表面粗糙度测量仪专门用于测量表面粗糙度，可与 HSE 滑倒评估软件结合使用，以检查地面的粗糙度。Surtronic 表面粗糙度测量仪的分辨率为 0.01 µm（0.4 µin），采用的粗糙度标准为 ISO 4287。

传感器范围: 200um
分辨率: 0.01um
不确定度: 读数的5%+0.1um (4uin)
传感器类型: 压电式
传感器接触力: 200mg
测针类型: 金刚石
测尖半径: 5um (200uin)
截止波长: 0.8mm±15% (0.03in±15%)
过滤类型: 2CR
测量行程: 5mm (0.2in)
测量速度: 2mm/sec (0.08in/sec)
显示单位: mm/ uin
电池寿命: 500小时/10000次操作
可测量参数: Ra; Rz (112/2916-03配置)
Ra; Rz; Rv; Rp; Rt (112/3115-01配置)
仪器尺寸: 125×80×38mm (4.92×*×1.5in)
重 量: 200g