MINITEST2100测厚仪EPK代理信息

MINITEST2100测厚仪EPK代理信息

德国Elektrophysik MINITEST2100膜厚仪

EPK MINITEST 2100校准方式 ：

EPK MINITEST1100/2100有以下五种不同的校准方式：标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。例如，低于一点校准精度要求的场合。

一点校准:置零，不用标准箔。用于允许误差超过3%的场合。

二点校准:置零，用一片标准箔。用于误差范围在1-3%(*大)之间的测量。探头误差范围应另考虑。

二点校准:置零，用二片标准箔。用于以下场合:

• A). 在粗糙表面测读;

• B). 厚度在两片箔厚之间的平滑表面的测量。

透过厚度未知涂层的校准:用箔校准(仅适用于F06、F1.6、F3、作F用的FN2测头,以及F1.6/90、F2/90、F10、F20、F50探头)。如果被测样本在校准时，没有无涂层的用于比较的样本，应当采用此法校准。

注意:校准箔是指所有的校准标准，包括2mm，5mm，10mm厚的标准板。