X射线荧光镀层测厚系统
——符合标准的工业级无损检测方案
★ 跨维度测量能力
• 同步解析,支持Cl(17)-U(92)检测
• 三档高压可调(30/40/50kV),适应镀层类型多样
★ 革命性空间适应性
• 三维运动平台:
X/Y手动平台:150×95mm行程(±0.01mm定位精度)
Z轴电动升降:140mm自动对焦(激光辅助定位)
★ 零标样检测突破
• FP法全谱解析:内置12元素基准库(Ag/Cu/Fe/Ni等)
• MQ值实时诊断:测量可信度量化显示(阈值≥85%触发警报)
◆ 光学导航系统
• 160倍高清CCD(5μm视场分辨率)
• φ0.3mm微束准直器(PCB微孔镀层检测专用)
◆ 辐射安全体系
• 国家CMA认证豁免函(辐射剂量<1μSv/h)
• 三重防护机制:
铅玻璃观察窗(3mm Pb当量)
安全联锁装置
急停按钮+状态指示灯
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