菲希尔XDL220测厚仪固定式测量平台信息

菲希尔XDL220测厚仪高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置。

设计用途  能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF)， 用于测定超薄镀层和溶液分析。 元素范围  从元素 氯(17) 到 铀(92) 配有可选的WinFTM® BASIC软件时，最多可同时测定24种元素 设计理念  台式仪器，测量门向上开启 测量方向  由上往下。

XDL220： 固定工作台，马达驱动的Z轴系统。

采用了 FISCHER 基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。