菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDL230信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列作为一款应用广泛的能量色散型 X 射线镀层测厚及材料分析仪，源自大众认可的 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器，在其基础上实现了进一步的优化与升级。

与上一代仪器一样，菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列具备强大的功能，非常适合进行无损测量镀层厚度、材料分析以及溶液分析。同时，针对大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层，它能够实现全自动检测，大大提高了生产检测的效率和准确性。

该系列仪器采用了基本参数法这一先进技术，这一特性使其在测量和分析方面具有优势。无论是面对镀层系统，还是固体和液体样品，仪器都无需依赖标准片，即可直接进行测量和分析，为用户省去了繁琐的标准片准备工作，提升了工作的便捷性。

在测量范围上，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列能够覆盖从元素氯（17）到铀（92），广泛的测量范围使其适用于多种不同的检测场景。对于需要进行质量控制、进料检验和生产流程监控的客户来说，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列无疑是一款可靠且实用的仪器选择。