费希尔X射线测厚仪FISCHER代理XDL210信息

FISCHERSCOPE  X-RAY XDL210菲希尔X射线测厚仪

菲希尔X射线测厚仪FISCHER技术参数表如下：

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210

X 射线荧光光谱仪，采用手动或自动方式，测量和分析印刷线路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪简介

FISCHERSCOPE X-RAY XDL210是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。

比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。zui多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24 种元素。

XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。