fischerscope测厚仪代理XDLM237信息

XDL和XDLM系列仪器测量测量方向从.上到下。它们被设计为用户友好的台式机，使用模块化结构，也就是说它们可以配备简单支板，各种XY工作台和Z轴以适应不同的需求。配备了可编程XY工作台的版本的XDL系列仪器可用于自动化系列测试。它可以很方便地扫描表面，这样就可以检查其均匀性。为了简单快速定位样品，当测量门开启时，XY工作台自动移动到加载位置，同时激光点指示测量点位置。对于大而平整的样品，例如线路板，壳体在侧面有开口(C形槽)。由于测量室空间很大，样品放置方便， 仪器不仅可以测量 平面平整的物体，也可以测量形状复杂的大样品(样品高度可达140mm)。Z轴可电动调整的仪器，测量距离还可以在0 - 80 mm的范围内自由选择，这样就可以测量腔体内部或表面不平整的物体(DCM方法)。

特征:

     。带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗和钨靶的微聚焦X射线管。
     。*高工作条件:50KV,50W
     。X射线探测器采用比例接收器
     。准直器:固定或4个自动切换，0.05 x0.05 mm到00.3 mm
     。基本滤片:固定或3个自动切换
     。测量距离可在0-80 mm范围内调整
     。固定样品支撑台，手动XY工作台
     。摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。
     。刻度线经过校准，显示实际测量点大小。
     。设计获得许可， 防护全面，符合德国X射线条例第4章第3节

典型应用领域:

     。大批量电镀件测量
     。防腐和装饰性镀层，如镍或铜上镀铬
     。电镀行业楼液分析
     。线路板行业如薄金，铂和镍镀层的策略
     。测量接插件和触点的镀层
     。电子和半导体行业的功能性镀层测量
     。黄金，珠宝和手表行业