菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是德国菲希尔 (Fischer) 公司生产的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，属于 XDL 系列的中端型号，专为质量控制、进料检验和生产流程监控设计。它采用无损检测技术，可精确测量镀层厚度和材料成分，广泛应用于电镀、电子、汽车和航空航天等行业。

菲希尔X射线测厚仪XDL230技术亮点

DCM 技术: 测量距离补偿法，可远距离对焦 (0~80mm)，轻松测量腔体内部或表面不平整样品

视频辅助系统: 高分辨率彩色 CCD 摄像头 (40~160 倍放大)，带激光定位点，便于精确测量定位

WinFTM 软件: 强大的分析软件，支持无标准片测量 (基本参数法)，自动生成统计报告

应用领域

电镀行业

测量防护性镀层 (如 Zn/Fe 防腐镀层)

装饰性镀层 (如 Cr/Ni/Cu/ABS) 厚度检测

电镀溶液成分分析 (Cu, Ni, Au 等金属离子浓度)

电子 / PCB 行业

印刷电路板 (PCB) 上的功能性镀层测量 (如 Au/Ni/Cu/PCB)

连接器和触点镀层厚度检测

半导体行业功能性镀层测量

其他领域

汽车零部件镀层质量控制

医疗器械镀层检测

珠宝、手表行业贵金属镀层测量

航空航天精密零件镀层分析