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泰勒霍普森Surtronic S116粗糙度仪信息

更新时间:2026-01-30   点击次数:37次
泰勒霍普森Surtronic S116是S100系列中的标准款小型便携式粗糙度仪,作为Surtronic25的升级替代产品,以小巧机身、精准性能与便捷操作,广泛适配加工现场与计量室的表面粗糙度检测需求,覆盖精密制造多个核心领域。仪器仅手掌大小,外形尺寸150x85x55mm,重量仅650g,便于携带至任何测量场景,独特的探头支架设计的可确保探头与被测工件表面稳定接触,大幅提升操作便捷性。
该仪器采用电感式传感器,搭配可更换金刚石测针(默认尖半径5μm),探头下压力可调至150~300mg,可精准测量Ra、Rz、Rp等多种国际标准粗糙度参数,测量范围达200μm,分辨率低至5nm,符合ISO、ASME、JIS等多项国际标准,Ra测量误差控制在±(2% + 0.004 μm),确保高精度检测需求。配备4.3英寸可旋转触摸屏,单页可显示多至7个参数,支持一键快捷设置与触觉盲操作,适配视线受阻等复杂测量场景,防滑V型脚架可稳定贴合平面、圆柱面等多种工件表面,保障测量精度。
仪器防护等级达IP54,耐冲击、防尘防油污,适配严苛车间环境,内置大容量锂电池,一次充电可完成2000次测量





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