菲希尔X射线测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237核心定位与区别

与同系 231（平面台 + 电动 Z）、232（手动 XY + 电动 Z）相比，237 的 XY 工作台在防护罩开启时自动移出装卸位，大幅提升批量效率；

无损测量，符合 DIN ISO 3497、ASTM B568 等国际标准；

标配 WinFTM软件+基本参数法（FP），可无标样定量分析多层复杂镀层。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237关键硬件参数

X 射线源：微聚焦钨靶射线管（铍窗）；10/30/50 kV 三档高压；3 种电动滤片（Ni/Al/ 无）；4 种准直器（0.1/0.3/0.6 mm，0.5×0.15 mm 狭缝），最小测量光斑0.1 mm；

探测器：比例计数管，兼顾速度与灵敏度；测量距离 0–80 mm，DCM 距离补偿；

样品台：电动可编程 XY+Z；行程 255×235 mm（XY），Z 轴 140 mm；移动 80 mm/s；XY 单向重复精度≤0.01 mm；样品高度 140 mm，额定承重 5 kg（降精度至 20 kg）；

定位系统：CCD 变焦视频显微镜（1×/2×/3×/4×）+1 级激光指示，十字线带标尺，可调 LED 照明；

元素范围：Al（13）~U（92），同时分析最多 24 种元素；

电气与尺寸：115/230 V 50/60 Hz；功耗≤120 W；IP40；570×760×650 mm；约 120 kg；带 C 型槽防护罩可测超大平板（如 PCB）。