菲希尔X射线镀层测厚仪FISCHER XAN500信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XAN500核心硬件与关键参数

1. 核心探测系统

探测器：珀耳帖制冷硅漂移探测器 SDD，Mn-Kα 能量分辨率≤160eV，超薄镀层、锌镍合金、多层镀层检测精度高

X 射线源：钨靶 X 射线管，最高 40kV/100μA，最大功率 4W

测量光斑：3mm 直径，适配微小区域、曲面小件

元素检测范围：S (16)～U (92)，单次最多同步分析 24 种元素

2. 机身便携参数

整机重量：1.9kg，长时间手持不累

防护等级：IP54，防尘防泼溅，车间 / 户外均可使用

供电：锂电 7.2V/6.2Ah，满电连续工作6 小时

定位结构：三点支撑底座，贴合曲面、异形件，大幅提升数据重复性，避免手持晃动误差

操作终端：配套平板运行完整版 WinFTM® 专业分析软件，曲线、报表、统计功能齐全

3. 双模使用设计

手持模式：管道、大型机加工件、涡轮叶片、整车外壳等无法上机台的大件现场测量

台式模式（选配测量箱）：仪器装入专用箱体，转为台式机，测量微小精密零件，带辐射防护，样品最大承重 10kg，样品台尺寸