菲希尔X射线测厚仪 XAN215信息

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XAN215核心测量原理

能量色散 X 射线荧光（EDXRF），搭载菲希尔FP 基本参数法，无需配套标准片即可直接测镀层厚度与合金成分；样品无损伤，适合高价值首饰、贵金属件检测。

硬件关键参数

1. X 射线发射系统

X 光管：钨靶热稳定 X 射线管，铍窗口

高压三档可调：30kV / 40kV / 50kV

标配准直器：φ1mm；可选配 φ2mm

测量光斑：孔径 + 200μm 补偿，测量距离 0–25mm

DCM 距离补偿，高低落差样品无需频繁校准

2. 探测器与分析能力

探测器：半导体制冷 Si-PIN 探测器

能量分辨率：Mn-Kα ≤180eV

可测元素范围：Cl (17) ~ U (92)，单次同步分析最多 24 种元素

金层重复性：≤1‰（60s 测量时长）

样品最大高度：最高 170mm，大件首饰、纪念币均可放入

3. 机身结构

台式上掀式防护门，自下而上发射 X 射线（样品放置在透明载台上方）

内置高清彩色 CCD 视频显微镜，带十字刻度标尺、可调 LED 光源，精准定位微小测点

手动放置样品，可选配手动 XY 移动平台，微小零件多点测量

全封闭辐射防护，安全合规，可车间 / 门店使用