菲希尔、X射线测厚仪、FISCHER XDL230信息

菲希尔 XDL 230 是一款能量色散型 X 射线荧光（EDXRF）测厚仪，主要用于无损测量镀层厚度和材料分析。它适合质量控制、来料检验和生产流程监控等场景，尤其擅长处理小型零件和量产部件。

核心技术与特点

测量原理：采用能量色散型 X 射线荧光法（EDXRF），属于无损检测。

元素范围：可分析从钛（Ti，22）到铀（U，92）的元素。选配 WinFTM SUPER 软件后，最多可同时测定 24 种元素。

核心优势：具备 FISCHER 基本参数法（FP），无需标准片即可分析固体、液体及镀层系统。采用比例计数器，计数率高，测量精度高且长期稳定性好，能减少重新校准的频率。